Aehr Test Systems 為全球範圍內的邏輯、光學和存儲器集成電路提供老化和測試測試系統。它提供的產品包括 ABTS 和 FOX-P 系列測試和老化系統以及 FOX WaferPak Aligner、FOX-XP WaferPak Contactor、FOX DiePak Carrier 和 FOX DiePak Loader。 ABTS系統用於低功率和高功率邏輯器件以及各種常見類型存儲器件的封裝部件的生產和鑑定測試。 FOX-XP 和 FOX-NP 系統是晶圓接觸和單片化芯片/模塊測試和老化系統,用於復雜設備的老化和功能測試,例如存儲器、數字信號處理器、微處理器、微控制器、系統啟動-芯片和集成光學器件。 FOX-CP 系統是用於邏輯、存儲器和光子器件的單晶圓緊湊型測試和可靠性驗證解決方案。 WaferPak Contactor 包含一個獨特的全晶圓探針卡,能夠測試最大 300mm 的晶圓,使 IC 製造商能夠在 Aehr Test FOX 系統上執行完整晶圓的測試和老化。 DiePak Carrier 是一種可重複使用的臨時封裝,使 IC 製造商能夠對裸芯片和模塊進行最終測試和老化。 Aehr Test Systems 成立於 1977 年,總部位於加利福尼亞州弗里蒙特。

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